Analiza fizyki awarii dla PCB i zespołów elektronicznych

Zachariah Peterson
|  Utworzono: luty 2, 2022  |  Zaktualizowano: lipiec 21, 2024
Fizyka awarii

Zanim umieścisz PCB w systemie krytycznym, urządzeniu lub pojeździe, musisz udowodnić jego niezawodność i jakość. Po stronie produkcyjnej jest to jeden z powodów, dla których mamy obszerne branżowe testy, inspekcje i normy jakości, które mają zastosowanie do montaży PCB i poszczególnych komponentów. Po stronie projektowej ważne jest, aby projektanci przeprowadzili ocenę ryzyka dla systemów krytycznych, aby zapewnić, że projekt będzie działał z oczekiwaną żywotnością, jak również aby zidentyfikować potencjalne punkty awarii w systemach o wysokiej niezawodności.

Dziedzina projektowania i analizy elektroniki, która zajmuje się tymi problemami niezawodności, nazywa się Fizyką Awarii. Chociaż początkowo dziedzina ta była stosowana do układów scalonych i nadal jest używana w tym obszarze do celów projektowych, później znalazła zastosowanie w montażach elektronicznych, a najnowsze badania dotyczą mechanizmów awarii w surowcach. Metody te rozpoczynają się od obszernych testów i analizy danych prototypów oraz kuponów testowych, a także od kilku podstawowych równań, które mogą dać pewne przybliżone oszacowania niezawodności i czasu do awarii.

Co to jest Fizyka Awarii?

Fizyka awarii polega na zrozumieniu związków między fizycznymi cechami produktu, jak one się zmieniają w wyniku procesów produkcyjnych oraz jak są wpływane przez środowisko operacyjne produktu. Dziedzina ta stanowi podstawę wielu symulacji i obliczeń analizy niezawodności, z których niektóre są implementowane w aplikacjach rozwiązujących problemy polowe. Dziedzinę tę czasami określa się jako Analizę Fizyki Niezawodności. Pokrewną dziedziną analizy niezawodności i oceny ryzyka jest analiza najgorszego przypadku.

Niezależnie od tego, jak to nazwiesz, niektóre podstawowe obliczenia w ramach Fizyki Awarii zapewniają kilka korzyści, które pomagają kierować projektowanie.

  • Identyfikacja krytycznych punktów awarii: Miejsce w projekcie, gdzie oczekuje się awarii produktu, powinno być zidentyfikowane wcześnie i nie powinno opierać się na opinii inżyniera. Jeśli punkt awarii można zidentyfikować za pomocą twardych danych, eliminuje to opinię i subiektywność z projektu.
  • Przewidywanie czasu do awarii: Niektóre z podstawowych obliczeń dostępnych w metodologii Fizyki Awarii są używane do przewidywania średniego czasu do awarii dla określonych warunków operacyjnych. Chociaż są to tylko średnie wartości, pomagają one ilościowo określić wpływ środowiska na niezawodność.
  • Uzasadnij wybory projektowe: Poważne podejście do niezawodności może pomóc uzasadnić ważne wybory projektowe, zarówno na poziomie obwodu, jak i układu.

Krótko mówiąc, zadania i analizy związane z fizyką awarii pomagają wyjaśnić, co się zepsuło i dlaczego. Idąc dalej, stosowanie pewnej analizy statystycznej i rozwijanie modeli empirycznych pomaga projektantom zidentyfikować, kiedy awaria może wystąpić przy danych warunkach testowych, na podstawie całokształtu możliwych mechanizmów awarii. To właśnie w tej ostatniej dziedzinie inżynierowie testowi i inżynierowie niezawodności spędzają swój czas, aby zapewnić, że PCB są jak najbardziej niezawodne.

Tworzenie modeli z danych

Niektóre z klasycznych modeli używanych we wczesnej literaturze dotyczącej fizyki awarii, opublikowanej w latach 70. i 80., opierały się na mieszance modeli empirycznych i podstawowej fizyki. Jest to szczególnie widoczne w przypadku awarii indukowanych termicznie i wibracyjnie, dwóch obszarów, które były najbardziej intensywnie badane w dziedzinie fizyki awarii. Oprócz awarii indukowanych termicznie, badano również awarie indukowane chemicznie, i istnieje model empiryczny, który dotyczy awarii związanych z wilgotnością w połączeniach drutu z padem.

Metody empiryczne i symulacyjne

Metody empiryczne koncentrują się na określaniu parametrów w modelach opartych na fizyce lub na opracowaniu modelu do ilościowego określenia związku między dwoma mierzonymi zmiennymi. Typowe techniki obejmują regresję jedno- lub wielozmienną z modelem potęgowym, co jest na tyle proste, że można to wykonać w Excelu. W niektórych przypadkach, ze względu na złożoność niektórych problemów, można użyć symulacji na wstępnym etapie.

Awaria termiczna i termomechaniczna mogą być oceniane razem na dwa sposoby. Główne metody testowania obejmują testowanie w wysokiej temperaturze zgodnie z MIL-STD-810G Metoda 501.5, lub cykliczne zmiany temperatury zgodnie z MIL-STD-810G Metoda 503.5. Pierwsza z nich dotyczy awarii termicznych w urządzeniach półprzewodnikowych, podczas gdy druga może być używana do oceny awarii na poziomie płyty spowodowanych powtarzającymi się zmianami temperatury. Obszary skupienia w testach cyklicznych zmian temperatury obejmują awarie mechaniczne w padach, przelotkach (szczególnie złączach i przelotkach o wysokim stosunku wysokości do szerokości), oraz złączach lutowniczych. Ze względu na złożoność typowego PCBA, mogą być używane uproszczone symulacje, ale zazwyczaj dane są pobierane z testów, aby określić parametry w modelu empirycznym.

physics of failure
Przykładowy model symulacji 3D FEA dla PCBA. Symulacje FEA są często używane do oceny niezawodności cieplnej i termomechanicznej.

Drgania i mechanizmy awarii mechanicznych są bardziej podstępne, ponieważ nie ma dobrego sposobu, aby obliczyć to ręcznie w PCBA. Testy są potrzebne do oceny zmęczenia i awarii wywołanych przez drgania. Istnieje jeden tekst, który przygląda się tym problemom w odniesieniu do elektroniki ogólnie i zawiera pewne modele empiryczne, które były używane do ilościowego określenia awarii wywołanych przez drgania w elektronice. Można znaleźć ten tekst poniżej:

Badając awarie z losowej próbki PBCA lub kuponów testowych, przyspieszone testy wytrzymałościowe/żywotności oraz inspekcja uszkodzonych komponentów mogą pomóc inżynierom testowym zidentyfikować konkretny element projektu, który zawiodł, jak również mechanizm awarii. Wyniki testów i symulacji były w przeszłości używane do opracowywania modeli opartych na termodynamice z empirycznie określonymi parametrami, które następnie są używane do szacowania wskaźników awarii, gdy elementy projektu są ponownie używane w nowym produkcie. Poprzez sukcesywne iteracje w skomplikowanych projektach, to kieruje procesem projektowym, aby ciągle identyfikować i eliminować defekty.

Metody Statystyczne

Bardziej ogólne podejście polega na statystycznym badaniu występowania awarii bez zakładania leżącego u podstaw mechanizmu fizycznego, a następnie na wskazywaniu głównej przyczyny awarii poprzez inspekcję. Po dalszej inspekcji staje się możliwe określenie głównego mechanizmu napędzającego prawdopodobieństwo awarii. Dysponując wystarczającą ilością danych, można skonstruować krzywą, jak pokazano poniżej; ta krzywa przedstawia ciągłą funkcję rozkładu Weibulla (CDF) definiującą średni czas do awarii dla wszystkich czasów poniżej wartości znalezionej na osi x.

Weibull distribution PCB
Przykładowy rozkład Weibulla.

Ten rozkład i jego zastosowanie w przewidywaniu awarii produktu to temat, który zostawię na inny artykuł. Jeśli masz dostęp do programu takiego jak Mathematica lub MATLAB, możesz wziąć swój zestaw danych i samodzielnie przeprowadzić powyższą procedurę dopasowania, aby określić niezawodność i średni czas do awarii.

Po przeprowadzeniu oceny ryzyka i przygotowaniu się do stworzenia niezawodnego układu fizycznego, użyj najlepszych w branży narzędzi CAD w Altium Designer®. Możesz również eksportować swój projekt do symulacji niezawodności za pomocą rozszerzenia Ansys EDB Exporter. Kiedy będziesz gotowy, aby udostępnić te pliki swoim współpracownikom do bardziej zaawansowanych symulacji i produkcji, platforma Altium 365™ ułatwia współpracę i dzielenie się projektami. Wszystko, czego potrzebujesz do projektowania i produkcji zaawansowanej elektroniki, znajduje się w jednym pakiecie oprogramowania.

Dopiero zaczynamy odkrywać, co jest możliwe do zrobienia z Altium Designer na Altium 365. Zacznij swoją darmową próbę Altium Designer + Altium 365 już dziś.

About Author

About Author

Zachariah Peterson ma bogate doświadczenie techniczne w środowisku akademickim i przemysłowym. Obecnie prowadzi badania, projekty oraz usługi marketingowe dla firm z branży elektronicznej. Przed rozpoczęciem pracy w przemyśle PCB wykładał na Portland State University i prowadził badania nad teorią laserów losowych, materiałami i stabilnością. Jego doświadczenie w badaniach naukowych obejmuje tematy związane z laserami nanocząsteczkowymi, elektroniczne i optoelektroniczne urządzenia półprzewodnikowe, czujniki środowiskowe i stochastykę. Jego prace zostały opublikowane w kilkunastu recenzowanych czasopismach i materiałach konferencyjnych. Napisał ponad 2000 artykułów technicznych na temat projektowania PCB dla wielu firm. Jest członkiem IEEE Photonics Society, IEEE Electronics Packaging Society, American Physical Society oraz Printed Circuit Engineering Association (PCEA). Wcześniej był członkiem z prawem głosu w Technicznym Komitecie Doradczym INCITS Quantum Computing pracującym nad technicznymi standardami elektroniki kwantowej, a obecnie jest członkiem grupy roboczej IEEE P3186 zajmującej się interfejsem reprezentującym sygnały fotoniczne przy użyciu symulatorów obwodów klasy SPICE.

Powiązane zasoby

Powiązana dokumentacja techniczna

Powrót do strony głównej
Thank you, you are now subscribed to updates.